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PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學(xué)測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產(chǎn)品覆蓋國內(nèi)原位電鏡市場的同時也遠銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。

PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。

PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。

PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現(xiàn)光、電、力、熱多種原位功能。

原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計的實驗工具，旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標準外形的透射電鏡樣品桿，通過集成先進的液氮杜瓦等冷凍模塊，使樣品能夠在低溫環(huán)境中進行觀測，從而顯著降低電子束輻照對樣品的損傷，同時為研究材料的低溫結(jié)構(gòu)和特性提供了理想的條件。澤攸科技憑借其真空導(dǎo)冷和低溫絕熱技術(shù)，確保了系統(tǒng)的性能。

原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設(shè)計的實驗工具，旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍討B(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標準外形的透射電鏡樣品桿，通過集成MEMS芯片技術(shù)，實現(xiàn)了對單個納米結(jié)構(gòu)的精確溫度調(diào)控和電學(xué)測量功能。在實驗過程中，用戶不僅可以對樣品進行可控加熱，還能實時監(jiān)測其電學(xué)特性，同時結(jié)合透射電鏡及相關(guān)附件。