原位掃描電鏡（SEM）采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

   原位拉伸臺參數(shù)

   載荷范圍：0-1000N

   位移分辨率：20nm

   加熱模塊：可選

   加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復雜步驟；

亮度/對比度一鍵自適應，自動/手動聚焦;

抽真空時間小于90秒；

標配光學導航，搭配多樣品臺，實現(xiàn)快速找樣及切換樣品；


信號采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；

四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

國內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務；
北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示；

   安徽澤攸科技有限公司擁有一支精通機械、光學、超高真空、電子技術、微納加工技術、軟件開發(fā)技術的技術團隊，致力于突破電子顯微鏡制造這一"卡脖子"技術難題，自主研發(fā)的原位掃描電鏡（SEM）結(jié)合了電鏡整機及原位樣品臺技術，支持個性化定制，可選原位加熱/冷凍樣品臺、原位力學、原位電學樣品臺等。澤攸科技將持續(xù)不斷地優(yōu)化產(chǎn)品型號及配置，期待與您的合作。