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SEM納米力測量系統(tǒng)

【產(chǎn)品概述】PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機(jī)制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案,能夠精確量化微納米級材料的力學(xué)特性,并通過與掃描電鏡(SEM)結(jié)合使用,實現(xiàn)對材料在不同應(yīng)力狀態(tài)下的原位觀測。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化,為深入理解材料的本質(zhì)提供了有力支持。

  • 產(chǎn)品型號:NI-100
  • 更新時間:2025-02-18
  • 訪  問  量:60
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

產(chǎn)品詳情

SEM納米力測量系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

SEM納米力測量系統(tǒng)

產(chǎn)品特色

▲ 易用性強(qiáng)

▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)

▲ 加熱,光學(xué)等多種模塊可選

▲ 閉環(huán)高精度、大量程力學(xué)測量

▲ 閉環(huán)納米尺度微動臺控制,位移更加精確

▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選

▲ 超高穩(wěn)定性,輕松獲得高質(zhì)量原位視頻


技術(shù)參數(shù)

功能:壓痕,壓縮,拉伸

載荷量程:100mN

力傳感分辨率:10uN

響應(yīng)時間:50ms

微調(diào)臺X/Y;模式:閉環(huán)控制  行程:100(±20)um  精度:20nm

粗調(diào)臺X/Y/Z;模式:開環(huán)控制  行程:XY軸±10mm、Z軸行程10mm  最小步長:≤1nm

標(biāo)準(zhǔn)納米力臺尺寸:130*65*55mm

裸臺重量:約300g(壓痕)

樣品尺寸:≤30*30mm

選配模塊:加熱(最高400℃)、加電


應(yīng)用案例

納米力臺拉伸過程(左) 納米力臺壓縮過程(右)


納米力臺微球壓碎過程



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